鍵的閉合與否，反應在口線的電平上，即口線的電平是呈現高電平還是低電平狀態。因此，可以通過口線電平高、低狀態的檢測，來確認按鍵是否按下。

但如果在觸點抖動期間檢測按鍵的通與斷狀態，可能導致判斷出錯，即按鍵一次按下或釋放被錯誤地認為是多次操作，這種情況是不允許出現的。為了克服按鍵觸點機械抖動所致的檢測誤判，確保CPU對一次按鍵動作只確認一次按鍵，必須采取去抖動措施。

消除按鍵抖動的措施：

    具體措施可從硬件、軟件兩方面予以考慮。在鍵數較少時，可采用硬件去抖，而當鍵數較多時，采用軟件去抖。

軟件措施：

在第一次檢測到有鍵按下時，執行一段延時10ms的子程序，之后，

再次檢測該鍵的電平狀態，如果該鍵電平仍保持閉合狀態電平，

則確認為真正有鍵按下。否則，認為無鍵按下；

同理，在檢測到該鍵釋放后，也應采用相同的步驟進行確認，
從而可消除抖動的影響。

code:
 
/*獨立按鍵,采用共陽極數碼管*/
#include<reg52.h>
#include<intrins.h>
#define uint unsigned int
#define uchar unsigned char
sbit key1=P2^3;
sbit ledA=P1^0;
uchar num;
void delay(uint z);

uchar code dutable[]={
0xc0,0xf9,0xa4,0xb0,0x99,
0x92,0x82,0xf8,0x80,0x90};//段選0~9

void main()
{
while(1)
{
if(key1==0)
{
delay(10);//去按下抖動延時
if(key1==0)
{
ledA=0;
num++;
if(num==10)
{
num=0;
}
}
while(!key1);//等待按鍵釋放
delay(10);//去釋放抖動延時
while(!key1);//確定已經釋放
}
else
{
ledA=1;
}
P0=dutable[num];
} 
}

void delay(uint z)
{
uint x,y;
for(x=z;x>0;x--)
{
for(y=0;y<=110;y++)
{
}
}
}

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